Vorläufiges Technisches Programm
Sonntag, 16. Februar 2020
- 17:00 – 21:00 Anreise, Registrierung
- 18:00 – 20:00 Abendessen
- 20:00 – 21:00 Sitzung der Fachgruppe
Montag, 17. Februar 2020
Sitzungsleitung: Daniel Tille, Infineon Technologies
9:00 Begrüßung durch Organisatoren
9:15 Keynote 1
Automotive Security and Safety Automation: Challenges and Opportunities
Paul Duplys, Bosch Corporate Research, Stuttgart
Sitzungsleitung: Sybille Hellebrand, Universität Paderborn
10:30 Emulation of Neural Networks under Hardware Faults
Fin Hendrik Bahnsen, Goerschwin Fey, Vanessa Klebe, TU Hamburg
11:00 Bewertung der Kombination verschiedener Fehlertolerantmaßnahmen in einem dynamisch geplanten Prozessor
Mario Schölzel, Hochschule Nordhausen
11:30 Schnelle 1-Bit Korrektur und Mehrbitfehlererkennung mit BCH-Codes
Christian Schulz-Hanke, Universität Potsdam
Sitzungsleitung: Stephan Eggersglüß, Mentor, a Siemens Business
13:30 Multi-Frequency Method for Testing the Hidden Interconnect Defects
Somayeh Sadeghi-Kohan und Sybille Hellebrand, Universität Paderborn
14:00 – 14:30 Invited Talk: Graduate School Intelligent Methods for Test and Reliabity
Hans-Joachim Wunderlich, Unversität Stuttgart
Power-Layout-Aware Test Pattern Re-scheduling
Harshad Dhotre1,2, Stephan Eggersglüß3 and Rolf Drechsler1,2, 1Universität Bremen, 2DFKI GmbH, 3Mentor, A Siemens Business, Germany
Hardware/Software Co-Verifizierungsplattform für eingebettete Multiprozessoren
Aleksandar Simevski1 und Milos Krstic1,2, 1IHP-Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder), 2Universität Potsdam
Implementierung einer TDL als Xtext-Sprache
Martin Schulze, Tobias Krawutschke und Georg Hartung, Technische Hochschule Köln
Negative Capacitance Transistor to Rescue Technology Scaling
Sami Salamin, Martin Rapp, Jörg Henkel und Hussam Amrouch, Karlsruhe Institute of Technology
The Graduate School Intelligent Methods for Test and Reliability
Dirk Pflüger1, Ilia Polian1, Jochen Rivoir2, Matthias Sauer2, Hans-Joachim Wunderlich1, 1Universität Stuttgart, 2Advantest Europe GmbH
Intelligent Post Silicon Validation
Tomas Ertl, Steffen Koch, Andres Lalama, Yiwen Liao, Dirk Pflüger, Daniel Weiskopf, Bin Yang, Universität Stuttgart
System Level Test
Jens Anders, Steffen Becker, Ilia Polian, Stefan Wagner, Universität Stuttgart
Software Test Suite Optimization for Complex High Data-Volume Software
Stefan Wagner, Steffen Becker, André van Hoorn, Universität Stuttgart
Sitzungsleitung: Sebastian Huhn, Universität Bremen und DFKI
16:00 Efficient and Secure Post-Quantum Protected Automotive Systems
Tim Fritzmann1, Jonas Vith2 und Johanna Sepulveda3, 1TU München, 2Rohde und Schwarz, 3Airbus Defense
16:30 Mixed-Signal IP Protection Against Piracy Based on Logic Locking
Julian Leonhard1, Marie-Minerve Louerat1, Hassan Aboushady1, Ozgur Sinanoglu2 und Haralampos-G. Stratigopoulos1, 1Sorbonne Universite, CNRS, LIP6, Paris, 2New York University Abu Dhabi
17:00 Early Assessment of Fault Sensitivity Attacks Against Secure Circuits
Felipe Valencia1, Ilia Polian2 und Francesco Regazzoni1, 1Università della Svizzera Italiana, 2Universität Stuttgart
Dienstag, 18. Februar 2020
Sitzungsleitung: Bernd Becker, Universität Freiburg
Prototype or Golden Model – what if Formal Methods took the lead in ESL-based design flows?
Wolfgang Kunz, TU Kaiserslautern
Sitzungsleitung: Jürgen Schlöffel, Mentor, a Siemens Business
10:30 Coverage-Directed Stimuli Generation for Characterization of RF Amplifiers
Muhammad Hassan1,2, Daniel Grosse1,2, Ahmad Asghar1 und Rolf Drechsler1,2, 1DFKI GmbH Bremen, 2Universität Bremen
11:00 SymBIST: Symmetry-based Analog/Mixed-Signal BIST
Antonios Pavlidis1, Marie-Minerve Louerat1, Eric Faehn2, Anand Kumar3 und Haralampos-G. Stratigopoulos1, 1Sorbonne Universite, CNRS, LIP6, Paris, 2ST Microelectronics, Crolles, 3ST Microelectronics, Greater Noida
11:30 Flexible PXI-Plattform für Evaluierung und Test von HF- und UHF-RFID-Sensorsystemen
Björn Bieske, Tom Reinhold und Jun Tan, IMMS GmbH, Ilmenau